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當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > HORIBA（理科學(xué)） > X射線熒光光譜儀 > XploRA Nano&NanologHORIBAX*功能材料
簡(jiǎn)要描述：*功能分析評(píng)估材料結(jié)構(gòu)性能，符合材料設(shè)涉及力，熱，聲，光，電功能的材料，他們?cè)谏茖W(xué)，納米，傳感器，只能設(shè)備及其前前沿交叉應(yīng)用中發(fā)揮著日益重要的作用，horibaXploRA Nano&Nanolog等代表性儀器，可以為這些材料的結(jié)構(gòu)性能研究提供的設(shè)備和分析應(yīng)用開發(fā)。
產(chǎn)品型號(hào)：XploRA Nano&Nanolog廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2023-07-25訪 問 量：1323產(chǎn)品分類
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詳細(xì)介紹
| 品牌 | HORIBA/堀場(chǎng) |
|---|
典型應(yīng)用于：
AFM和Raman同區(qū)域一次成像，針尖增強(qiáng)拉曼，物理特性，化學(xué)結(jié)構(gòu)分析，納米材料制備激勵(lì)分析
碳管的手性，直徑，缺陷，碳管的發(fā)光機(jī)制及修飾，量子尺寸調(diào)節(jié)，納米器件的發(fā)光效率。
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